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參與 TRUSTECH 2025 — 探索下一代卡片測試方案

革新觸點·引領未來：展示 Contactless Test Station III 和 NFC 測試平臺

正文：

法國巴黎 — 2025 年12月2日-4日，盛會即將拉開帷幕。我們誠摯邀請您蒞臨 TRUSTECH 2025，在 巴黎 Porte de Versailles 會展中心（Paris Expo Porte de Versailles）共同探索下一代卡片與 NFC 測試領域的技術創新。

我們將在 E090 展位為您展示最新一代解決方案： Contactless Test Station III（CTS III）— 專為 NFC 項目而生的前沿測試平臺。

不僅如此，我們的專業團隊將現場展示 NFC Test Bench 演示，屆時您將有機會直接了解如何借助 CTS III 及其配套生態，強化并賦能您的 NFC 創新項目。

此外，您還可通過官網免費領取參觀門票，建議提前預約與我們的專家團隊會面，探討定制方案與未來發展機遇。

我們期待在 12 月初與您相聚巴黎，共襄盛會！

 

聯系方式／會議預約信息：

• 展會日期：2025 年12月2日-4日
• 地點：法國 巴黎 Porte de Versailles 會展中心
• 展位號：E090
• 預約專家會面：請聯系sales@paralink.com.cn